TY  - RPRT
TI  - The effect of oxidation-expanded defects upon MOS parameters
AU  - Prussin, S.
AU  - Li, S. P.
AU  - Cockrum, R. H.
PY  - 1977
UR  - https://ntrs.nasa.gov/citations/19780031937
ID  - 19780031937
ER  -