TY  - RPRT
TI  - Improved characterization of the Si-SiO2 interface
AU  - Su, P.
AU  - Sher, A.
AU  - Tsuo, Y. H.
AU  - Moriarty, J. A.
AU  - Miller, W. E.
PY  - 1980
UR  - https://ntrs.nasa.gov/citations/19800057362
ID  - 19800057362
ER  -