TY  - RPRT
TI  - XPS Study of SiO2 and the Si/SiO2 Interface
AU  - Grunthaner, F. J.
AU  - Grunthaner, P. J.
AU  - Vasquez, R. P.
AU  - Lewis, B. F.
AU  - Maserjian, J.
AU  - Madhukar, A.
PY  - 1982
UR  - https://ntrs.nasa.gov/citations/19810000285
ID  - 19810000285
ER  -