TY  - RPRT
TI  - Four-micron period ion-implanted bubble test circuits
AU  - Nelson, T. J.
AU  - Fratello, V. J.
AU  - Muehlner, F. J.
AU  - Roman, B. J.
AU  - Slusky, S. E. G.
PY  - 1986
UR  - https://ntrs.nasa.gov/citations/19860056447
ID  - 19860056447
ER  -