TY  - RPRT
TI  - Single-event upset (SEU) in a DRAM with on-chip error correction
AU  - Zoutendyk, J. A.
AU  - Schwartz, H. R.
AU  - Watson, R. K.
AU  - Hasnain, Z.
AU  - Nevile, L. R.
PY  - 1987
UR  - https://ntrs.nasa.gov/citations/19880038162
ID  - 19880038162
ER  -