TY  - RPRT
TI  - Ellipsometric study of InGaAs MODFET material
AU  - Alterovitz, S. A.
AU  - Sieg, R. E.
AU  - Yao, H. D.
AU  - Snyder, P. G.
AU  - Woollam, J. A.
AU  - Pamulapati, J.
AU  - Bhattacharya, P. K.
PY  - 1990
UR  - https://ntrs.nasa.gov/citations/19910010038
ID  - 19910010038
ER  -