TY  - RPRT
TI  - Study of InGaAs based MODFET structures using variable angle spectroscopic ellipsometry
AU  - Alterovitz, S. A.
AU  - Sieg, R. M.
AU  - Yao, H. D.
AU  - Snyder, P. G.
AU  - Woollam, J. A.
AU  - Pamulapati, J.
AU  - Bhattacharya, P. K.
AU  - Sekula-Moise, P. A.
PY  - 1991
UR  - https://ntrs.nasa.gov/citations/19910010622
ID  - 19910010622
ER  -