TY  - RPRT
TI  - Characterization of SiGe/Ge heterostructures and graded layers using variable angle spectroscopic ellipsometry
AU  - Croke, E. T.
AU  - Wang, K. L.
AU  - Heyd, A. R.
AU  - Alterovitz, S. A.
AU  - Lee, C. H.
PY  - 1996
UR  - https://ntrs.nasa.gov/citations/19960038261
ID  - 19960038261
ER  -