TY  - RPRT
TI  - Total dose bias dependency and ELDRS effects in bipolar linear devices
AU  - Yui, C. C.
AU  - McClure, S. S.
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AU  - Lehman, J. M.
AU  - Minto, T. D.
AU  - Wiedeman, M.
PY  - 2002
UR  - https://ntrs.nasa.gov/citations/20060030076
ID  - 20060030076
ER  -