TY  - RPRT
TI  - Long-Term Reliability of a Hard-Switched Boost Power Processing Unit Utilizing SiC Power MOSFETs
AU  - Ikpe, Stanley A.
AU  - Lauenstein, Jean-Marie
AU  - Carr, Gregory A.
AU  - Hunter, Don
AU  - Ludwig, Lawrence L.
AU  - Wood, William
AU  - Iannello, Christopher J.
AU  - Del Castillo, Linda Y.
AU  - Fitzpatrick, Fred D.
AU  - Mojarradi, Mohammad M.
AU  - Chen, Yuan
PY  - 2016
UR  - https://ntrs.nasa.gov/citations/20160009175
ID  - 20160009175
ER  -