TY  - RPRT
TI  - Radiation Hardness Study on SiC Power MOSFETs
AU  - Zhu, Xingguang
AU  - Lauenstein, J.-M.
AU  - Bolonikov, A.
AU  - Jacob, B.
AU  - Kashyap, A.
AU  - Sariri, K.
AU  - Chen, Y.
PY  - 2017
UR  - https://ntrs.nasa.gov/citations/20190001574
ID  - 20190001574
ER  -