TY  - RPRT
TI  - Versatile Smart Optics Material (SOM) Characterization System
AU  - Yeonjoon Park
AU  - Hyunjung Kim
AU  - Glen C King
AU  - Sang H Choi
AU  - Uhn Lee
UR  - https://ntrs.nasa.gov/citations/20200005980
ID  - 20200005980
ER  -