TY  - RPRT
TI  - Microscale Characterization of Damage Accumulation in CMCs
AU  - B. Swaminathan
AU  - N. R. McCarthy
AU  - A.S. Almansour
AU  - K. Sevener
AU  - T. M. Pollock
AU  - J. D. Kiser
AU  - S. Daly
PY  - 2020
UR  - https://ntrs.nasa.gov/citations/20205003615
ID  - 20205003615
ER  -