TY  - RPRT
TI  - Evaluating Elevated Temperature DRAM Stuck Bit Sensitivity at Room Temperature
AU  - Sheldon, Douglas J.
AU  - Allen, Gregory R.
AU  - Vanacore, Joseph
AU  - Blaisdell-Pijuan, Paris
AU  - Delaney, Sam W.
AU  - Nguyen, Duc N.
AU  - Parker, Wilson P.
AU  - Guertin, Steven M.
PY  - 2019
UR  - https://ntrs.nasa.gov/citations/20210012116
ID  - 20210012116
ER  -