TY  - RPRT
TI  - Method to reduce dislocation density in silicon using stress
AU  - Buonassisi, Anthony
AU  - Bertoni, Mariana
AU  - Argon, Ali
AU  - Castellanos, Sergio
AU  - Fecych, Alexandria
AU  - Powell, Douglas
AU  - Vogl, Michelle
PY  - 2013
UR  - https://www.osti.gov/biblio/1083452
ID  - 1083452
ER  -