TY  - RPRT
TI  - Modeling Point Defect Diffusion in Compound Semiconductor Alloys.
AU  - Modine, Normand Arthur
AU  - Wright, Alan F.
AU  - Lee, Stephen R.
AU  - Foiles, Stephen Martin
AU  - Battaile, Corbett Chandler.
AU  - Thomas, John C.
AU  - Van der Ven, Anton
PY  - 2013
UR  - https://www.osti.gov/biblio/1121277
ID  - 1121277
ER  -