TY  - RPRT
TI  - Evaluating Application Resilience with XRay
AU  - Chen, Sui
AU  - Bronevetsky, Greg
AU  - Li, Bin
AU  - Casas-Guix, Marc
AU  - Peng, Lu
PY  - 2015
DO  - 10.2172/1184175
UR  - https://www.osti.gov/biblio/1184175
ID  - 1184175
ER  -