TY  - RPRT
TI  - Dislocation Characterization in 4H-SiC Crystals
AU  - Sumakeris, Joseph J.
AU  - Leonard, R. T.
AU  - Deyneka, Eugene
AU  - Khlebnikov, Yuri
AU  - Powell, Adrian R.
AU  - Seaman, Jeff
AU  - Paisley, Michael J.
AU  - Tsevtkov, V.
AU  - Guo, Jian Qiu
AU  - Yang, Yu
AU  - Dudley, Michael
AU  - Balkas, Elif
PY  - 2016
DO  - 10.4028/www.scientific.net/msf.858.393
UR  - https://www.osti.gov/biblio/1328034
ID  - 1328034
ER  -