TY  - RPRT
TI  - Microstructure Characterization and Modeling for Improved Electrode Design
AU  - Smith, Kandler A
AU  - Usseglio Viretta, Francois L
AU  - Graf, Peter A
AU  - Santhanagopalan, Shriram
AU  - Pesaran, Ahmad A
AU  - Yao, Koffi (Pierre)
AU  - Dees, Dennis
AU  - Jansen, Andy
AU  - Mukherjee, Partha
AU  - Mistry, Aashutosh
AU  - Verma, Ankit
PY  - 2017
UR  - https://www.osti.gov/biblio/1374527
ID  - 1374527
ER  -