TY  - RPRT
TI  - Evaluating microstructure evolution in an SOFC electrode using digital volume correlation
AU  - Heenan, T. M. M.
AU  - Lu, X.
AU  - Finegan, Donal P.
AU  - Robinson, J.
AU  - Iacoviello, F.
AU  - Bailey, J. J.
AU  - Brett, D. J. L.
AU  - Shearing, P. R.
PY  - 2018
DO  - 10.1039/c8se00292d
UR  - https://www.osti.gov/biblio/1485555
ID  - 1485555
ER  -