TY  - RPRT
TI  - Characterizing crystalline defects in single nanoparticles from angular correlations of single-shot diffracted X-rays
AU  - Niozu, Akinobu (ORCID:0000000272925630)
AU  - Kumagai, Yoshiaki
AU  - Nishiyama, Toshiyuki
AU  - Fukuzawa, Hironobu
AU  - Motomura, Koji
AU  - Bucher, Maximilian
AU  - Asa, Kazuki
AU  - Sato, Yuhiro
AU  - Ito, Yuta
AU  - Takanashi, Tsukasa
AU  - You, Daehyun
AU  - Ono, Taishi
AU  - Li, Yiwen
AU  - Kukk, Edwin
AU  - Miron, Catalin
AU  - Neagu, Liviu
AU  - Callegari, Carlo
AU  - Di Fraia, Michele
AU  - Rossi, Giorgio
AU  - Galli, Davide E.
AU  - Pincelli, Tommaso
AU  - Colombo, Alessandro
AU  - Owada, Shigeki
AU  - Tono, Kensuke
AU  - Kameshima, Takashi
AU  - Joti, Yasumasa
AU  - Katayama, Tetsuo
AU  - Togashi, Tadashi
AU  - Yabashi, Makina
AU  - Matsuda, Kazuhiro
AU  - Nagaya, Kiyonobu
AU  - Bostedt, Christoph
AU  - Ueda, Kiyoshi
PY  - 2020
DO  - 10.1107/s205225252000144x
UR  - https://www.osti.gov/biblio/1617956
ID  - 1617956
ER  -