TY  - RPRT
TI  - Electrically driven optical interferometry with spins in silicon carbide
AU  - Miao, Kevin C.
AU  - Bourassa, Alexandre
AU  - Anderson, Christopher P.
AU  - Whiteley, Samuel J.
AU  - Crook, Alexander L.
AU  - Bayliss, Sam L.
AU  - Wolfowicz, Gary
AU  - Thiering, Gergő
AU  - Udvarhelyi, Péter
AU  - Ivády, Viktor
AU  - Abe, Hiroshi
AU  - Ohshima, Takeshi
AU  - Gali, Ádám
AU  - Awschalom, David D.
PY  - 2019
DO  - 10.1126/sciadv.aay0527
UR  - https://www.osti.gov/biblio/1626035
ID  - 1626035
ER  -