TY  - RPRT
TI  - X-ray topography characterization of gallium nitride substrates for power device development
AU  - Raghothamachar, Balaji
AU  - Liu, Yafei
AU  - Peng, Hongyu
AU  - Ailihumaer, Tuerxun
AU  - Dudley, Michael
AU  - Shahedipour-Sandvik, F. Shadi
AU  - Jones, Kenneth A.
AU  - Armstrong, Andrew
AU  - Allerman, Andrew A.
AU  - Han, Jung
AU  - Fu, Houqiang
AU  - Fu, Kai
AU  - Zhao, Yuji
PY  - 2020
DO  - 10.1016/j.jcrysgro.2020.125709
UR  - https://www.osti.gov/biblio/1634813
ID  - 1634813
ER  -