TY  - RPRT
TI  - Quantitative Specifications to Avoid Degradation during E-Beam and Induced Current Microscopy of Halide Perovskite Devices
AU  - Luo, Yanqi
AU  - Parikh, Pritesh
AU  - Brenner, Thomas M.
AU  - Kim, Min-cheol
AU  - Wang, Rui
AU  - Yang, Yang
AU  - Correa-Baena, Juan-Pablo
AU  - Buonassisi, Tonio
AU  - Meng, Ying Shirley
AU  - Fenning, David P.
PY  - 2020
DO  - 10.1021/acs.jpcc.0c06733
UR  - https://www.osti.gov/biblio/1659669
ID  - 1659669
ER  -