TY  - RPRT
TI  - Characterization of Real-World and Accelerated Exposed PV Module Backsheet Degradation
AU  - Wieser, Raymond
AU  - Wang, Yu
AU  - Fairbrother, Andrew
AU  - Napoli, Sophia
AU  - Julien, Scott
AU  - Hauser, Adam W.
AU  - Ji, Liang
AU  - Wan, Kai-tai
AU  - O'Brien, Gregory S.
AU  - French, Roger H.
AU  - Kempe, Michael D.
AU  - Gu, Xiaohong
AU  - Boyce, Kenneth P.
AU  - Bruckman, Laura S.
PY  - 2020
DO  - 10.1109/pvsc40753.2019.9198979
UR  - https://www.osti.gov/biblio/1726063
ID  - 1726063
ER  -