TY  - RPRT
TI  - Identification of localized radiation damage in power MOSFETs using EBIC imaging
AU  - Ashby, David Scott
AU  - Garland, Diana
AU  - Esposito, Madeline G.
AU  - Vizkelethy, Gyorgy
AU  - Marinella, Matthew J.
AU  - McLain, Michael Lee
AU  - Llinás, J. P.
AU  - Talin, Albert Alec
PY  - 2021
DO  - 10.1063/5.0053892
UR  - https://www.osti.gov/biblio/1787526
ID  - 1787526
ER  -