TY  - RPRT
TI  - Deep-Learning-Enabled Fast Optical Identification and Characterization of 2D Materials
AU  - Han, Bingnan
AU  - Lin, Yuxuan
AU  - Yang, Yafang
AU  - Mao, Nannan
AU  - Li, Wenyue
AU  - Wang, Haozhe
AU  - Yasuda, Kenji
AU  - Wang, Xirui
AU  - Fatemi, Valla
AU  - Zhou, Lin
AU  - Wang, Joel I. ‐Jan
AU  - Ma, Qiong
AU  - Cao, Yuan
AU  - Rodan‐Legrain, Daniel
AU  - Bie, Ya‐Qing
AU  - Navarro‐Moratalla, Efrén
AU  - Klein, Dahlia
AU  - MacNeill, David
AU  - Wu, Sanfeng
AU  - Kitadai, Hikari
AU  - Ling, Xi
AU  - Jarillo‐Herrero, Pablo
AU  - Kong, Jing
AU  - Yin, Jihao
AU  - Palacios, Tomás
PY  - 2020
DO  - 10.1002/adma.202000953
UR  - https://www.osti.gov/biblio/1803670
ID  - 1803670
ER  -