TY  - RPRT
TI  - Interface Sensitivity in Electron/Ion Yield X-ray Absorption Spectroscopy: The TiO 2 –H 2 O Interface
AU  - van Spronsen, Matthijs A.
AU  - Zhao, Xiao
AU  - Jaugstetter, Maximilian
AU  - Escudero, Carlos
AU  - Duchoň, Tomáš
AU  - Hunt, Adrian
AU  - Waluyo, Iradwikanari
AU  - Yang, Peidong
AU  - Tschulik, Kristina
AU  - Salmeron, Miquel B.
PY  - 2021
DO  - 10.1021/acs.jpclett.1c02115
UR  - https://www.osti.gov/biblio/1825961
ID  - 1825961
ER  -