TY  - RPRT
TI  - Multi defect detection and analysis of electron microscopy images with deep learning
AU  - Shen, Mingren
AU  - Li, Guanzhao
AU  - Wu, Dongxia
AU  - Liu, Yuhan
AU  - Greaves, Jacob R. C.
AU  - Hao, Wei
AU  - Krakauer, Nathaniel J.
AU  - Krudy, Leah
AU  - Perez, Jacob
AU  - Sreenivasan, Varun
AU  - Sanchez, Bryan
AU  - Torres-Velázquez, Oigimer
AU  - Li, Wei
AU  - Field, Kevin G.
AU  - Morgan, Dane
PY  - 2021
DO  - 10.1016/j.commatsci.2021.110576
UR  - https://www.osti.gov/biblio/1845761
ID  - 1845761
ER  -