TY  - RPRT
TI  - Single Event Burnout in Vertical GaN Diodes.
AU  - Martinez, Marino
AU  - Colon, Albert
AU  - Kropka, Kimberly E
AU  - Neely, Jason C.
AU  - Pickrell, Gregory
PY  - 2021
UR  - https://www.osti.gov/biblio/1847216
ID  - 1847216
ER  -