TY  - RPRT
TI  - Microstructural dependence of defect formation in iron-oxide thin films
AU  - Derby, Benjamin Kyle
AU  - Mills, Sean
AU  - Agarwal, Sahil
AU  - Valdez, James Anthony
AU  - Baldwin, Jon Kevin Scott
AU  - Schneider, Matthew M.
AU  - Minor, Andrew
AU  - Uberuaga, Blas P.
AU  - Selim, Farida Ahmed
AU  - Li, Nan
PY  - 2022
DO  - 10.1016/j.apsusc.2022.152844
UR  - https://www.osti.gov/biblio/1855147
ID  - 1855147
ER  -