TY  - RPRT
TI  - Improved Throughput, Statistics, and Instrument Utilization with Automated Analytical Electron Microscopy
AU  - Cullen, David A.
AU  - Yu, Haoran
AU  - Zachman, Michael
AU  - Reeves, Shawn Kimberly
AU  - Park, Jaehyung
AU  - Kariuki, Nancy
AU  - Myers, Deborah
AU  - Hu, Leiming
AU  - Neyerlin, Kenneth C.
AU  - Mukundan, Rangachary
PY  - 2022
DO  - 10.1017/s1431927622010947
UR  - https://www.osti.gov/biblio/1883915
ID  - 1883915
ER  -