TY  - RPRT
TI  - Exploring Charged Defects in Ferroelectrics by the Switching Spectroscopy Piezoresponse Force Microscopy
AU  - Alikin, Denis
AU  - Abramov, Alexander
AU  - Turygin, Anton
AU  - Ievlev, Anton
AU  - Pryakhina, Victoria
AU  - Karpinsky, Dmitry
AU  - Hu, Qingyuan
AU  - Jin, Li
AU  - Shur, Vladimir
AU  - Tselev, Alexander
AU  - Kholkin, Andrei
PY  - 2021
DO  - 10.1002/smtd.202101289
UR  - https://www.osti.gov/biblio/1885278
ID  - 1885278
ER  -