TY  - RPRT
TI  - Surface Dynamics in p-InAs and n-GaAs Probed with Scanning Ultrafast Electron Microscopy (SUEM).
AU  - Perez, Christopher
AU  - Ellis, Scott
AU  - Smoll, Eric
AU  - Fuller, Elliot
AU  - Michael, Joseph Richard
AU  - Chandler, David
AU  - Asheghi, Mehdi
AU  - Goodson, Kenneth E.
AU  - Talin, Albert
AU  - Kumar, Suhas
PY  - 2021
DO  - 10.2172/1900564
UR  - https://www.osti.gov/biblio/1900564
ID  - 1900564
ER  -