TY  - RPRT
TI  - Demonstrate Improved Ag Diffusion and Describe the Basis for Pd Penetration Modeling in SiC
AU  - Simon, Pierre-Clement A
AU  - Aagesen Jr, Larry Kenneth
AU  - Jiang, Chao
AU  - Jiang, Wen
AU  - Ke, Jia-Hong
AU  - Yang, Lin
PY  - 2022
UR  - https://www.osti.gov/biblio/1922426
ID  - 1922426
ER  -