TY  - RPRT
TI  - A Guideline to Mitigate Interfacial Degradation Processes in Solid‐State Batteries Caused by Cross Diffusion
AU  - Din, Mir Mehraj Ud
AU  - Ladenstein, Lukas
AU  - Ring, Joseph
AU  - Knez, Daniel
AU  - Smetaczek, Stefan
AU  - Kubicek, Markus
AU  - Sadeqi‐Moqadam, Mohsen
AU  - Ganschow, Steffen
AU  - Salagre, Elena
AU  - Michel, Enrique G.
AU  - Lode, Stefanie
AU  - Kothleitner, Gerald
AU  - Dugulan, Iulian
AU  - Smith, Jeffrey G.
AU  - Limbeck, Andreas
AU  - Fleig, Jürgen
AU  - Siegel, Donald J.
AU  - Redhammer, Günther J.
AU  - Rettenwander, Daniel
PY  - 2023
DO  - 10.1002/adfm.202303680
UR  - https://www.osti.gov/biblio/1985533
ID  - 1985533
ER  -