TY  - RPRT
TI  - SRAM Multi-Cell Upset Vulnerability at the 5-nm FinFET Node.
AU  - Pieper, Nicholas
AU  - Xiong, Yoni
AU  - Feeley, Alexandra
AU  - Pasternak, John
AU  - Dodds, Nathaniel
AU  - Ball, Dennis
AU  - Bharat, Bhuva
PY  - 2022
UR  - https://www.osti.gov/biblio/2004056
ID  - 2004056
ER  -