TY  - RPRT
TI  - X-ray Grating Interferometry at ESRF: Applications and Recent Technical Developments
AU  - Weitkamp, T
AU  - Zanette, I
AU  - Bernard, P
AU  - Valade, J -P
AU  - Baruchel, J
AU  - Schulz, G
AU  - Lang, S
AU  - Deyhle, H
AU  - Mueller, B
AU  - Bech, M
AU  - Tapfer, A
AU  - Pfeiffer, F
AU  - Rutishauser, S
AU  - Donath, T
AU  - David, C
AU  - Reznikova, E
AU  - Kenntner, J
AU  - Mohr, J
PY  - 2011
DO  - 10.1063/1.3625297
UR  - https://www.osti.gov/biblio/21608296
ID  - 21608296
ER  -