TY  - RPRT
TI  - High external quantum efficiency (6.5%) InGaN V-defect LEDs at 600 nm on patterned sapphire substrates
AU  - Ewing, Jacob J.
AU  - Lynsky, Cheyenne
AU  - Wong, Matthew S.
AU  - Wu, Feng
AU  - Chow, Yi Chao
AU  - Shapturenka, Pavel
AU  - Iza, Michael
AU  - Nakamura, Shuji
AU  - Denbaars, Steven P.
AU  - Speck, James S.
PY  - 2023
DO  - 10.1364/oe.503732
UR  - https://www.osti.gov/biblio/2217385
ID  - 2217385
ER  -