TY  - RPRT
TI  - Solution-processed amorphous silicon surface passivation layers
AU  - Mews, Mathias
AU  - Sontheimer, Tobias
AU  - Korte, Lars
AU  - Rech, Bernd
AU  - Mader, Christoph
AU  - Traut, Stephan
AU  - Wunnicke, Odo
PY  - 2014
DO  - 10.1063/1.4896687
UR  - https://www.osti.gov/biblio/22350752
ID  - 22350752
ER  -