TY  - RPRT
TI  - Testing Low-Loss Microstrip Materials with MKIDs for Microwave Applications
AU  - Hood II, J. C.
AU  - Barry, P. S.
AU  - Cecil, T.
AU  - Chang, C. L.
AU  - Li, J.
AU  - Meyer, S. S.
AU  - Pan, Z.
AU  - Shirokoff, E.
AU  - Tang, A.
PY  - 2022
DO  - 10.1007/s10909-022-02881-y
UR  - https://www.osti.gov/biblio/2329399
ID  - 2329399
ER  -