TY  - RPRT
TI  - Crystalline Si Surface Passivation with Nafion for Bulk Defects Detection with Electron Paramagnetic Resonance
AU  - Chen, Kejun
AU  - Johnston, Steve W.
AU  - Taylor, P. Craig
AU  - Mulder, David W.
AU  - Guthrey, Harvey L.
AU  - Nemeth, William
AU  - Theingi, San
AU  - Page, Matthew
AU  - Kaupa, Markus
AU  - Young, David L.
AU  - Agarwal, Sumit
AU  - Stradins, Paul
PY  - 2024
DO  - 10.1021/acsami.4c03872
UR  - https://www.osti.gov/biblio/2349501
ID  - 2349501
ER  -