TY  - RPRT
TI  - Interfacial defect reduction enhances universal power law response in Mo–SiNx granular metals
AU  - McGarry, Michael P.
AU  - Gilbert, Simeon James
AU  - Yates, Luke
AU  - Meyerson, Melissa Lynn
AU  - Kotula, Paul G.
AU  - Bachman, William Bryant
AU  - Sharma, Peter Anand
AU  - Flicker, Jack David
AU  - Siegal, Michael P.
AU  - Biedermann, Laura Butler
PY  - 2024
DO  - 10.1063/5.0211080
UR  - https://www.osti.gov/biblio/2428032
ID  - 2428032
ER  -