TY  - RPRT
TI  - The effect of current and lambda on white-etch-crack failures
AU  - Demas, Nicholaos G.
AU  - Lorenzo-Martin, Cinta
AU  - Luna, Ryan
AU  - Erck, Robert A.
AU  - Greco, Aaron C.
PY  - 2023
DO  - 10.1016/j.triboint.2023.108951
UR  - https://www.osti.gov/biblio/2447363
ID  - 2447363
ER  -