TY  - RPRT
TI  - Characterizing Defects Inside Hexagonal Boron Nitride Using Random Telegraph Signals in van der Waals 2D Transistors
AU  - Huang, Zhujun
AU  - Lee, Ryong-Gyu
AU  - Cuniberto, Edoardo
AU  - Song, Jiyoon
AU  - Lee, Jeongwon
AU  - Alharbi, Abdullah
AU  - Kisslinger, Kim
AU  - Taniguchi, Takashi
AU  - Watanabe, Kenji
AU  - Kim, Yong-Hoon
AU  - Shahrjerdi, Davood
PY  - 2024
DO  - 10.1021/acsnano.4c06929
UR  - https://www.osti.gov/biblio/2474822
ID  - 2474822
ER  -