TY  - RPRT
TI  - Creep and failure at metal-oxide interfaces
AU  - Dillon, Shen J.
AU  - Schoell, Ryan M.
AU  - Wright, Andrew
AU  - Luo, Jian
AU  - Rabkin, Eugen
AU  - Hattar, Khalid
PY  - 2024
DO  - 10.1016/j.actamat.2024.120563
UR  - https://www.osti.gov/biblio/2477110
ID  - 2477110
ER  -