TY  - RPRT
TI  - Fractal analysis on Ag 2 O thin film using a data-driven approach
AU  - Hui, Jian
AU  - Hu, Qingyun
AU  - Lu, Yao
AU  - Li, Tianyi
AU  - Dong, Xianping
AU  - Ren, Yang
AU  - Wang, Hong
PY  - 2024
DO  - 10.1016/j.surfin.2024.104338
UR  - https://www.osti.gov/biblio/2566216
ID  - 2566216
ER  -