TY  - RPRT
TI  - A Defect-Aware Device Model Realized: A case study in GaAs
AU  - Diaz, Leopoldo
AU  - Hjalmarson, Harold P.
AU  - Lutz, Jesse James
AU  - Vizkelethy, Gyorgy
AU  - Cain, John Marcus
AU  - Bielejec, Edward Salvatore
AU  - Schultz, Peter Andrew
PY  - 2024
DO  - 10.2172/2586314
UR  - https://www.osti.gov/biblio/2586314
ID  - 2586314
ER  -