TY  - RPRT
TI  - Enhanced Robustness of Atomic Precision Devices under Accelerated Lifetime Testing
AU  - Ivie, Jeffrey Andrew
AU  - Halsey, Connor
AU  - Depoy, Jessica
AU  - Campbell, DeAnna Marie
AU  - Anderson, Evan Michael
AU  - Schmucker, Scott William
AU  - Ward, Daniel R
AU  - Scrymgeour, David
AU  - Gao, Xujiao
AU  - Misra, Shashank
PY  - 2023
DO  - 10.2172/3019200
UR  - https://www.osti.gov/biblio/3019200
ID  - 3019200
ER  -