TY  - RPRT
TI  - Dislocation half-loop control for optimal V-defect density in GaN-based light emitting diodes
AU  - Quevedo, Alejandro
AU  - Wu, Feng
AU  - Tsai, Tsung-Yin
AU  - Ewing, Jacob J.
AU  - Tak, Tanay
AU  - Gandrothula, Srinivas
AU  - Gee, Stephen
AU  - Li, Xianqing
AU  - Nakamura, Shuji
AU  - DenBaars, Steven P.
AU  - Speck, James S.
PY  - 2024
DO  - 10.1063/5.0217727
UR  - https://www.osti.gov/biblio/3023030
ID  - 3023030
ER  -